---

Die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) ist eine leistungsfähige Methode zur Untersuchung der mikroskopischen Struktur von Materialien und Werkstoffen. Neue Geräteentwicklungen, wie etwa die Korrektur von Linsenfehlern und die Entwicklung brillanterer Elektronenquellen, haben die Leistungsfähigkeit der Mikroskope in jüngster Zeit erheblich gesteigert. Im gleichen Zug steigen damit auch die Anforderungen an die Probenpräparation, die die Qualität und Aussagekraft von TEM-Untersuchungen stark mitbestimmt und in vielen Fällen begrenzt. Dieses Buch beschäftigt sich mit der Anwendung und Entwicklung innovativer Präparationsverfahren für die Transmissionselektronenmikroskopie. Dazu wurden neuartige Methoden entwickelt und angewandt, um die steigenden Anforderungen an die Probenpräparation zu erfüllen. Im Rahmen mehrerer Kooperationen innerhalb des Erlanger Exzellenzclusters "Engineering of Advanced Materials" wurden diese Methoden auf unterschiedliche Materialsysteme und Bauelemente angewandt und detaillierte mikroskopische Untersuchungen durchgeführt, um zu einem tieferen Verständnis von Struktur-Eigenschaftsbeziehungen und damit zu einer Optimierung der Materialien beizutragen.

---

Studium der Werkstoffwissenschaften an der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg. Anschließend dort Promotion auf dem Gebiet der Materialanalyse und Elektronenmikroskopie.Analyseingenieur bei der Firma NXP Germany GmbH, Hamburg.

---